歡迎來到北京華科天成科技有限公司網站╃│•↟!
諮詢熱線

13521683201

當前位置₪╃:首頁  >  技術文章  >  ICP光譜儀在光源方面的進步

ICP光譜儀在光源方面的進步

發表時間₪╃:2021-03-08  |  點選率₪╃:759
  ICP光譜儀在光源方面的進步
  ICP光譜儀在不斷髮展╃╃·,這裡主要介紹下其在光源方面的進步✘₪↟◕。
  1₪╃↟、高頻發生器的改進₪╃:由於ICP電子密度和激發溫度隨頻率的增加而減低╃╃·,而光源的背景強度(Ar的連續光譜)則與頻率的平方成反比╃╃·,隨頻率的提高要降低得多✘₪↟◕。因此╃╃·,為了提高高頻發生器的穩定性╃╃·,ICP光譜儀採用具有很高頻率穩定性和輸出功率穩定性的固態發生器╃╃·,等離子體阻抗可自動調節補償╃╃·,並由計算機控制工作引數₪╃↟、設定點火程式╃╃·,可自動點火✘₪↟◕。因此╃╃·,新型的商品儀器均已使用固態發生器╃╃·,結合對樣品的引入系統而採取恆溫╃╃·,提高進樣的穩定性╃╃·,加上光學系統的恆溫╃╃·,熱穩定性高╃╃·,使儀器預熱時間大為縮短╃╃·,大大提高了ICP光譜儀分析法的分析精度和準確度✘₪↟◕。
  2₪╃↟、採用端視技術以提高靈敏度₪╃: 近年來商品ICP光譜儀推出軸向ICP╃╃·,有較高的靈敏度和較好的檢出限✘₪↟◕。ICP光譜儀中╃╃·,ICP矩管通常是垂直放置╃╃·,從側面觀察╃╃·,稱為徑向ICP✘₪↟◕。端視ICP的檢出限通常要比側視提高几倍至一個數量級✘₪↟◕。這是由於側視只觀測到ICP正常分析區的一部分╃╃·,訊號量較小且背景較高✘₪↟◕。端視可以觀測ICP光譜儀整個正常分析區的光發射訊號╃╃·,增加了可測的訊號量╃╃·,同時光譜背景較低╃╃·,信背比高✘₪↟◕。因此╃╃·,端視的檢出限顯著高於側視✘₪↟◕。端視ICP的主要缺點是線性範圍相對較小✘₪↟◕。而且分析基體複雜樣品時基體效應較明顯✘₪↟◕。這是由於在採用水平矩管端視ICP光譜儀時╃╃·,等離子矩的尾焰溫度低╃╃·,產生電子₪╃↟、離子複合╃╃·,從而可能產生自吸和分子光譜所致✘₪↟◕。為此通常要採用壓縮空氣“切割”尾焰╃╃·,或者採用“冷錐技術”(在ICP尾焰區放置一個類似ICP-MS的介面錐的金屬錐)╃╃·,可以有效地消除尾焰的干擾╃╃·,以提視ICP的穩定性及減少端視ICP的基體干擾✘₪↟◕。
  ICP光譜儀的應用領域已得到迅速擴大╃╃·,在光源方面不斷進步╃╃·,具有很好的發展前景✘₪↟◕。
老太婆性杂交欧美肥老太,九七电影院,特黄性暴力强奷在线播放,久久久人人人婷婷色东京热