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ICP光譜儀實操時怎麼樣編輯分析方法✘•✘╃✘?

發表時間▩₪▩:2022-09-27  |  點選率▩₪▩:242
  ICP光譜儀實操時怎麼樣編輯分析方法✘•✘╃✘? 
  ICP光譜儀是由高頻電流經感應線圈產生高頻電磁場│☁▩▩,使工作氣體(Ar)電離形成火焰狀放電高溫等離子體│☁▩▩,等離子體的高溫度10000K│╃◕•·。試樣溶液透過進樣毛細管經蠕動泵作用進入霧化器霧化形成氣溶膠│☁▩▩,由載氣引入高溫等離子體│☁▩▩,進行蒸發╃₪•、原子化╃₪•、激發╃₪•、電離│☁▩▩,併產生輻射│☁▩▩,光源經過採光管進入狹縫╃₪•、反光鏡╃₪•、稜鏡╃₪•、中階梯光柵╃₪•、準直鏡形成二維光譜│☁▩▩,譜線以光斑形式落在CID檢測器上│☁▩▩,每個光斑覆蓋幾個畫素│☁▩▩,光譜儀透過測量落在畫素上的光量子數來測量元素濃度│╃◕•·。光量子數訊號透過電路轉換為數字訊號透過電腦顯示和印表機打印出結果│╃◕•·。
  ICP光譜儀在實際操作時怎麼樣編輯分析方法✘•✘╃✘?
  首先新建方法│☁▩▩,點選桌面快捷圖示TEVA→輸入使用者名稱▩₪▩:Admin│☁▩▩,Ok│☁▩▩,點選應用欄中“分析”出現方法列表(後使用的方法顯示在前面)│☁▩▩,不選擇其中的方法點選取消│╃◕•·。
  進入分析介面後│☁▩▩,點選工作列中“方法”下拉選單│☁▩▩,選擇“新建”│☁▩▩,或者點選圖示欄第二組一個“新建方法”圖示│☁▩▩,進行新方法編輯│╃◕•·。
  1.選擇元素及譜線
  點選元素變成綠色│☁▩▩,並出現譜線列表(列表顯示譜線(級次)╃₪•、相對強度╃₪•、狀態)│☁▩▩,點選譜線可以看到干擾元素及譜線│☁▩▩,雙擊該譜線即可選定│☁▩▩,此時│☁▩▩,該譜線前會出現藍色“√”│☁▩▩,點選“確定”完成譜線選擇│╃◕•·。建議初建方法時多選擇幾條譜線進行比較│╃◕•·。
  2.設定引數
  點選左下角“方法”│☁▩▩,在第二項“分析引數”中設定測定重複次數╃₪•、樣品沖洗時間╃₪•、等離子觀測╃₪•、積分時間等引數│╃◕•·。
  ①重複次數╃₪•、樣品沖洗時間和積分時間均可改變
  ②等離子觀測一般選擇水平觀測
  水平觀測-短波╃₪•、長波都是水平觀測;
  垂直觀測-短波╃₪•、長波都是垂直觀測;
  自動-短波水平觀測│☁▩▩,長波垂直觀測;
  譜線選擇-對同一元素中不同譜線設定不同觀測方式│╃◕•·。
  3.設定工作曲線
  點選第九項“標準”│☁▩▩,選中“高標”刪除│☁▩▩,依次“新增”標準│☁▩▩,更改標準名稱│☁▩▩,輸入標準濃度│☁▩▩,完成工作曲線設定(注▩₪▩:各種元素都是同一濃度)│╃◕•·。
  方法引數設定完成後點選工作列中“方法”下拉選單選擇“儲存”以儲存方法│╃◕•·。
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